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- Film Sense FS-1FS-1單波長(zhǎng)橢偏儀
Film Sense FS-1多波長(zhǎng)橢偏儀采用壽命長(zhǎng) LED 光源和非移動(dòng) 式部件橢偏探測(cè)器,可在操作簡(jiǎn)單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)快速和可 靠地薄膜測(cè)量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡(jiǎn)單的 1 秒測(cè)量,就 可以獲得非常精密和的數(shù)據(jù)。
- 型號(hào):Film Sense FS-1
- 更新日期:2024-07-24 ¥面議
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- F37Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)厚儀
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)厚儀 嵌入式在線診斷 免費(fèi)離線分析軟件 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能,幫助用戶有效的存儲(chǔ),重現(xiàn)與繪制測(cè)量結(jié)果
- 型號(hào):F37
- 更新日期:2024-08-08 ¥面議
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- F10-RTFilmetrics薄膜測(cè)量?jī)x
Filmetrics F10-RT 薄膜測(cè)量?jī)x同步測(cè)量薄膜的反射率/穿透率,F(xiàn)10-RT使Filmetrics的分析能力實(shí)現(xiàn)了同步測(cè)量反射率與穿透率。只要立即的鼠標(biāo)就能夠產(chǎn)生在客戶是定波長(zhǎng)范圍內(nèi),得出Z大與Z小的反射率與穿透率。
- 型號(hào):F10-RT
- 更新日期:2024-09-04 ¥面議
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- F3-sXFilmetircs 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
Filmetircs 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測(cè)試系統(tǒng),如需了解更多 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x膜厚測(cè)試儀 F3-sX 信息,咨詢。
- 型號(hào):F3-sX
- 更新日期:2023-08-25 ¥面議
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- F10-RTFilmetrics 薄膜分析儀薄厚測(cè)量
Filmetrics F10-RT 薄膜分析儀薄厚測(cè)量 同步測(cè)量薄膜的反射率/穿透率,如需了解更多,查詢。。。。
- 型號(hào):F10-RT
- 更新日期:2024-08-08 ¥面議
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- Filmetrics-F50美國(guó)Filmetrics F50 光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
桌面式薄膜測(cè)厚儀美國(guó)Filmetrics F50 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x自動(dòng)化薄膜厚度繪圖系統(tǒng) 依靠 F50的光譜測(cè)量系統(tǒng),可以很簡(jiǎn)單快速地獲得Z大直徑 450 毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。
- 型號(hào):Filmetrics-F50
- 更新日期:2024-08-08 ¥面議
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- F40Filmetrics 光學(xué)薄膜測(cè)厚儀
Filmetrics 光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 F40 結(jié)合顯微鏡的薄膜測(cè)量系統(tǒng) ,精密光譜測(cè)量系統(tǒng)讓用戶簡(jiǎn)單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù),通過對(duì)待測(cè)膜層的上下界面間反射光譜的分析,幾秒鐘內(nèi)就可測(cè)量結(jié)果。
- 型號(hào):F40
- 更新日期:2024-08-08 ¥面議
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- F60-tFilmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 依靠 F60 的光譜測(cè)量系統(tǒng),可以很簡(jiǎn)單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。 采用 r-θ 極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái),可以非常快速的定位所需測(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度,測(cè)試非??焖?,大約每秒能測(cè)試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。 在約 45 秒的時(shí)間就可以掃描完標(biāo)準(zhǔn) 49 點(diǎn)分布圖
- 型號(hào):F60-t
- 更新日期:2024-08-08 ¥面議